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深圳市托普科實(shí)業(yè)有限公司
聯(lián)系人：向經(jīng)理 135-1032-9527
郵箱：market@topsmt.com
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地址：深圳市寶安區(qū)福海街道翰宇灣區(qū)創(chuàng)新港4號(hào)樓201
不受顏色,材質(zhì)和表面亮度的影響
PARMI的鐳射掃描方式是將鐳射集中在均勻的線條上(Line Beam),測(cè)量物體的中心值,因此不論顏色,材質(zhì),表面亮度,都可以準(zhǔn)確的獲取高度信息
利用MPC(Multi Profile Correlation)呈現(xiàn)Laser Profile的3D成像
PARMI研發(fā)了獨(dú)一無二的Laser Profiling技術(shù),通過精確獲取基準(zhǔn)面而計(jì)算出物體的準(zhǔn)確高度
通過實(shí)時(shí)Z軸補(bǔ)償功能,可完美對(duì)應(yīng)PCB彎曲
為了對(duì)應(yīng)PCB彎曲問題,在業(yè)界首次應(yīng)用了實(shí)時(shí)Z軸控制功能
使用了同行業(yè)中最輕便的檢測(cè)相機(jī)(3.5kg),優(yōu)化了Z軸控制
利用對(duì)高物體進(jìn)行多重掃描(Multi-Step Scan)功能，呈現(xiàn)3D圖像
利用Z軸功能解決了高度5mm以上元器件出現(xiàn)圖像模糊的問題
100%解決陰影問題
利用小角度雙鐳射,將陰影問題最小化
Soldering后根據(jù)環(huán)境產(chǎn)生的圖像失真問題
PARMI的TRSC檢測(cè)相機(jī)在高溫下曝光時(shí)間短
Soldering后,在高溫下檢測(cè),沒有圖像失真問題
不受外界光源影響
鐳射掃描方式的檢測(cè)原理
找出鐳射光線的中心,并計(jì)算高度,呈現(xiàn)3D圖像
根據(jù)物體的高度,所投射的鐳射線位置會(huì)發(fā)生差異
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