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芯片及晶圓外觀缺陷檢測(cè)AOI檢測(cè)方案

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芯片及晶圓外觀缺陷檢測(cè)AOI檢測(cè)方案

發(fā)布日期:2022-04-22 作者: 點(diǎn)擊:

半導(dǎo)體封裝制程中至少需要4次光檢,人員利用顯微鏡在不同的倍率下執(zhí)行抽檢或全檢,存在效率低下、人員視力疲憊、缺陷漏檢等現(xiàn)象,產(chǎn)品的質(zhì)量難以得到保證;托普科實(shí)業(yè)致力于SMT整線解決方案提供商,為半導(dǎo)體封裝企業(yè)提供全工藝段的AOI檢測(cè)系統(tǒng)和工藝信息化質(zhì)量管理系統(tǒng),協(xié)助企業(yè)改善質(zhì)量管理體系。

3D Wafer Bump(晶元錫焊)、Wire Bonding(引線鍵合)AOI檢測(cè)系統(tǒng)

芯片晶圓AOI檢測(cè)系統(tǒng)

高精度3D Wafer(晶元)檢測(cè)精密解析度配置可實(shí)現(xiàn)針對(duì)Foot形態(tài)元件的整體檢測(cè)

可直接檢測(cè)鏡面元件,避免反光問(wèn)題

奔創(chuàng)特有的3D技術(shù) 實(shí)現(xiàn)元件的精準(zhǔn)3D成型,機(jī)器鏡頭采用同軸照明輔助2D檢測(cè)。

支持SIP/FCBGA/FOWLP/FOPLP/WLCSP等各種封裝方式的解決方案


本文網(wǎng)址:http://www.qsuck.cn/news/582.html

關(guān)鍵詞:芯片AOI,晶圓AOI

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